IEC 60749-20-2008 PDF
Name in English:
St IEC 60749-20-2008
Name in Russian:
Ст IEC 60749-20-2008
Description in English:
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 20: Resistance of plastic encapsulated SMDs to the combined effect of moisture and soldering heat. Original standard IEC 60749-20-2008 in PDF full version. Additional info + preview on request
Description in Russian:
Полупроводниковые приборы - Методы механических и климатических испытаний - Часть 20- Устойчивость SMD-модулей в пластиковой капсуле к комбинированному воздействию влаги и тепла при пайке. Оригинальный стандарт IEC 60749-20-2008 в PDF полная версия. Дополнительная инфо + превью по запросу
Document status:
Replaced by St IEC 60749-20-2020
Format:
Electronic (PDF)
Page count:
53
Delivery time (for English version):
1 business day
Delivery time (for Russian version):
5 business days
SKU:
stiec12216
More technical details are being prepared for this document.