IEC 60749-28-2017 PDF
Name in English:
St IEC 60749-28-2017
Name in Russian:
Ст IEC 60749-28-2017
Description in English:
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 28: Electrostatic discharge (ESD) sensitivity testing - Charged device model (CDM) - device level. Original standard IEC 60749-28-2017 in PDF full version. Additional info + preview on request
Description in Russian:
Полупроводниковые приборы - Методы механических и климатических испытаний - Часть 28- Испытания чувствительности к электростатическому разряду (ESD) - Модель заряженного устройства (CDM) - уровень устройства. Оригинальный стандарт IEC 60749-28-2017 в PDF полная версия. Дополнительная инфо + превью по запросу
Document status:
Replaced by St IEC 60749-28-2022
Format:
Electronic (PDF)
Page count:
44
Delivery time (for English version):
1 business day
Delivery time (for Russian version):
3 business days
SKU:
stiec12218
More technical details are being prepared for this document.