BS ISO 20263-2017 PDF
Name in English:
STB BS ISO 20263-2017
Name in Russian:
СТБ BS ISO 20263-2017
Description in English:
Microbeam analysis. Analytical electron microscopy. Method for the determination of interface position in the cross-sectional image of the layered materials. Original standard BS ISO 20263-2017 in PDF full version. Additional info + preview on request
Description in Russian:
Микропучковый анализ. Аналитическая электронная микроскопия. Метод определения положения границы раздела фаз на поперечном изображении слоистых материалов. Оригинальный стандарт BS ISO 20263-2017 в PDF полная версия. Дополнительная инфо + превью по запросу
Document status:
Withdrawn
Format:
Electronic (PDF)
Page count:
54
Delivery time (for English version):
1 business day
Delivery time (for Russian version):
5 business days
SKU:
stbs61486
More technical details are being prepared for this document.