BS ISO 23170-2022 PDF
Name in English:
STB BS ISO 23170-2022
Name in Russian:
СТБ BS ISO 23170-2022
Description in English:
Surface chemical analysis. Depth profiling. Non-destructive depth profiling of nanoscale heavy metal oxide thin films on Si substrates with medium energy ion scattering. Original standard BS ISO 23170-2022 in PDF full version. Additional info + preview on request
Description in Russian:
Химический анализ поверхности. Профилирование по глубине. Неразрушающее профилирование по глубине тонких пленок наноразмерных оксидов тяжелых металлов на кремниевых подложках с использованием рассеяния ионов средней энергии. Оригинальный стандарт BS ISO 23170-2022 в PDF полная версия. Дополнительная инфо + превью по запросу
Document status:
Active
Format:
Electronic (PDF)
Page count:
38
Delivery time (for English version):
1 business day
Delivery time (for Russian version):
3 business days
SKU:
stbs36599
More technical details are being prepared for this document.