IEC 60749-5-2017 PDF
Name in English:
St IEC 60749-5-2017
Name in Russian:
Ст IEC 60749-5-2017
Description in English:
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 5: Steady-state temperature humidity bias life test. Original standard IEC 60749-5-2017 in PDF full version. Additional info + preview on request
Description in Russian:
Полупроводниковые приборы - Методы механических и климатических испытаний - Часть 5- Испытание на долговечность при устойчивом смещении температуры и влажности. Оригинальный стандарт IEC 60749-5-2017 в PDF полная версия. Дополнительная инфо + превью по запросу
Document status:
Replaced by St IEC 60749-5-2023
Format:
Electronic (PDF)
Page count:
9
Delivery time (for English version):
1 business day
Delivery time (for Russian version):
2 business days
SKU:
stiec12222
More technical details are being prepared for this document.