The epitaxial structures and dielectric films. Method for measuring the thickness of gallium arsenide epitaxial layers based on a spherical section

Description in Russian:
Структуры эпитаксиальные и пленки диэлектрические. Метод измерения толщины эпитаксиальных слоев арсенида галлия на основе сферического шлифа

Document status:

Active

Format:

Electronic (PDF)

Page count:

Delivery time (for English version):

2 business days

Delivery time (for Russian version):

1 business day

SKU:

GOST49641