EIA JEDEC JEP128-1996 PDF
Name in English:
St EIA JEDEC JEP128-1996
Name in Russian:
Ст EIA JEDEC JEP128-1996
Description in English:
Guide for Standard Probe Pad Sizes and Layouts for Wafer-Level Electrical Testing. Original standard EIA JEDEC JEP128-1996 in PDF full version. Additional info + preview on request
Description in Russian:
Руководство по стандартным размерам и расположению зондовых контактных площадок для электрических испытаний на уровне пластины. Оригинальный стандарт EIA JEDEC JEP128-1996 в PDF полная версия. Дополнительная инфо + превью по запросу
Document status:
Active
Format:
Electronic (PDF)
Page count:
7
Delivery time (for English version):
1 business day
Delivery time (for Russian version):
2 business days
SKU:
Steia000213
More technical details are being prepared for this document.