EIA JEDEC JEP134-1998 PDF
Name in English:
St EIA JEDEC JEP134-1998
Name in Russian:
Ст EIA JEDEC JEP134-1998
Description in English:
Guidelines for Preparing Customer-Supplied Background Information Relating to a Semiconductor-Device Failure Analysis. Original standard EIA JEDEC JEP134-1998 in PDF full version. Additional info + preview on request
Description in Russian:
Рекомендации по подготовке исходной информации, предоставляемой заказчиком для анализа отказа полупроводникового прибора. Оригинальный стандарт EIA JEDEC JEP134-1998 в PDF полная версия. Дополнительная инфо + превью по запросу
Document status:
Active
Format:
Electronic (PDF)
Page count:
18
Delivery time (for English version):
1 business day
Delivery time (for Russian version):
2 business days
SKU:
Steia000214
More technical details are being prepared for this document.