EIA JEDEC JESD51-1-1995 PDF
Name in English:
St EIA JEDEC JESD51-1-1995
Name in Russian:
Ст EIA JEDEC JESD51-1-1995
Description in English:
Integrated Circuits Thermal Measurement Method – Electrical Test Method (Single Semiconductor Device). Original standard EIA JEDEC JESD51-1-1995 in PDF full version. Additional info + preview on request
Description in Russian:
Метод тепловых измерений интегральных схем. Электрический метод испытаний для одного полупроводникового прибора. Оригинальный стандарт EIA JEDEC JESD51-1-1995 в PDF полная версия. Дополнительная инфо + превью по запросу
Document status:
Active
Format:
Electronic (PDF)
Page count:
33
Delivery time (for English version):
1 business day
Delivery time (for Russian version):
3 business days
SKU:
Steia000220
More technical details are being prepared for this document.