EIA JEDEC JESD57-1996 PDF
Name in English:
St EIA JEDEC JESD57-1996
Name in Russian:
Ст EIA JEDEC JESD57-1996
Description in English:
Test Procedures for the Measurement of Single-Event Effects in Semiconductor Devices from Heavy Ion Irradiation. Original standard EIA JEDEC JESD57-1996 in PDF full version. Additional info + preview on request
Description in Russian:
Методы испытаний для измерения одиночных эффектов в полупроводниковых приборах при облучении тяжёлыми ионами. Оригинальный стандарт EIA JEDEC JESD57-1996 в PDF полная версия. Дополнительная инфо + превью по запросу
Document status:
Replaced by St JEDEC JESD57A-2017
Format:
Electronic (PDF)
Page count:
49
Delivery time (for English version):
1 business day
Delivery time (for Russian version):
3 business days
SKU:
Steia000228
More technical details are being prepared for this document.