IEC 60749-37-2008 PDF
Name in English:
St IEC 60749-37-2008
Name in Russian:
Ст IEC 60749-37-2008
Description in English:
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 37: Board level drop test method using an accelerometer. Original standard IEC 60749-37-2008 in PDF full version. Additional info + preview on request
Description in Russian:
Полупроводниковые приборы - Методы механических и климатических испытаний - Часть 37- Метод испытания на падение уровня платы с использованием акселерометра. Оригинальный стандарт IEC 60749-37-2008 в PDF полная версия. Дополнительная инфо + превью по запросу
Document status:
Replaced by St IEC 60749-37-2022
Format:
Electronic (PDF)
Page count:
39
Delivery time (for English version):
1 business day
Delivery time (for Russian version):
3 business days
SKU:
stiec12220
More technical details are being prepared for this document.