ISO 16531-2013 PDF
Name in English:
St ISO 16531-2013
Name in Russian:
Ст ISO 16531-2013
Description in English:
Surface chemical analysis - Depth profiling - Methods for ion beam alignment and the associated measurement of current or current density for depth profiling in AES and XPS. Original standard ISO 16531-2013 in PDF full version. Additional info + preview on request
Description in Russian:
Химический анализ поверхности - Профилирование по глубине - Методы выравнивания ионного пучка и связанного с этим измерения тока или плотности тока для профилирования по глубине в Оже-спектроскопии и рентгеновской фотоэлектронной спектроскопии. Оригинальный стандарт ISO 16531-2013 в PDF полная версия. Дополнительная инфо + превью по запросу
Document status:
Replaced by St ISO 16531-2020
Format:
Electronic (PDF)
Page count:
26
Delivery time (for English version):
1 business day
Delivery time (for Russian version):
3 business days
SKU:
stiso36066
More technical details are being prepared for this document.