JEDEC JESD22-B118A-2021 PDF
Name in English:
St JEDEC JESD22-B118A-2021
Name in Russian:
Ст JEDEC JESD22-B118A-2021
Description in English:
Semiconductor Wafer and Die Backside External Visual Inspection. Original standard JEDEC JESD22-B118A-2021 in PDF full version. Additional info + preview on request
Description in Russian:
Внешний визуальный контроль обратной стороны полупроводниковых пластин и кристаллов. Оригинальный стандарт JEDEC JESD22-B118A-2021 в PDF полная версия. Дополнительная инфо + превью по запросу
Document status:
Active
Format:
Electronic (PDF)
Page count:
20
Delivery time (for English version):
1 business day
Delivery time (for Russian version):
3 business days
SKU:
Stjedec000197
More technical details are being prepared for this document.