JEDEC JESD241-2015 PDF
Name in English:
St JEDEC JESD241-2015
Name in Russian:
Ст JEDEC JESD241-2015
Description in English:
Procedure for Wafer-Level DC Characterization of Bias Temperature Instabilities. Original standard JEDEC JESD241-2015 in PDF full version. Additional info + preview on request
Description in Russian:
Методика определения на уровне пластины характеристик нестабильности при воздействии напряжения смещения и температуры в режиме постоянного тока. Оригинальный стандарт JEDEC JESD241-2015 в PDF полная версия. Дополнительная инфо + превью по запросу
Document status:
Active
Format:
Electronic (PDF)
Page count:
32
Delivery time (for English version):
1 business day
Delivery time (for Russian version):
3 business days
SKU:
Stjedec000246
More technical details are being prepared for this document.