JEDEC JESD28-A-2001 PDF
Name in English:
St JEDEC JESD28-A-2001
Name in Russian:
Ст JEDEC JESD28-A-2001
Description in English:
Procedure for Measuring N-Channel MOSFET Hot-Carrier-Induced Degradation Under DC Stress. Original standard JEDEC JESD28-A-2001 in PDF full version. Additional info + preview on request
Description in Russian:
Методика измерения деградации n-канальных МОП-транзисторов, вызванной горячими носителями, при воздействии постоянного электрического напряжения. Оригинальный стандарт JEDEC JESD28-A-2001 в PDF полная версия. Дополнительная инфо + превью по запросу
Document status:
Active
Format:
Electronic (PDF)
Page count:
20
Delivery time (for English version):
1 business day
Delivery time (for Russian version):
3 business days
SKU:
Stjedec000267
More technical details are being prepared for this document.