JEDEC JESD51-14-2010 PDF
Name in English:
St JEDEC JESD51-14-2010
Name in Russian:
Ст JEDEC JESD51-14-2010
Description in English:
Transient Dual Interface Test Method for the Measurement of the Thermal Resistance Junction to Case of Semiconductor Devices with Heat Flow Through a Single Path. Original standard JEDEC JESD51-14-2010 in PDF full version. Additional info + preview on request
Description in Russian:
Метод испытаний по переходному тепловому процессу при двух условиях теплоотвода для измерения теплового сопротивления переход–корпус полупроводниковых приборов с единственным путём теплового потока. Оригинальный стандарт JEDEC JESD51-14-2010 в PDF полная версия. Дополнительная инфо + превью по запросу
Document status:
Active
Format:
Electronic (PDF)
Page count:
46
Delivery time (for English version):
1 business day
Delivery time (for Russian version):
3 business days
SKU:
Stjedec000381
More technical details are being prepared for this document.