JEDEC JESD57A-2017 PDF
Name in English:
St JEDEC JESD57A-2017
Name in Russian:
Ст JEDEC JESD57A-2017
Description in English:
Test Procedures for the Measurement of Single-Event Effects in Semiconductor Devices from Heavy Ion Irradiation. Original standard JEDEC JESD57A-2017 in PDF full version. Additional info + preview on request
Description in Russian:
Методики испытаний для измерения одиночных эффектов в полупроводниковых приборах при облучении тяжёлыми ионами. Оригинальный стандарт JEDEC JESD57A-2017 в PDF полная версия. Дополнительная инфо + превью по запросу
Document status:
Active
Format:
Electronic (PDF)
Page count:
56
Delivery time (for English version):
1 business day
Delivery time (for Russian version):
5 business days
SKU:
Stjedec000399
More technical details are being prepared for this document.