JEDEC JESD92-2003 PDF
Name in English:
St JEDEC JESD92-2003
Name in Russian:
Ст JEDEC JESD92-2003
Description in English:
Procedure for Characterizing Time-Dependent Dielectric Breakdown of Ultra-Thin Gate Dielectrics. Original standard JEDEC JESD92-2003 in PDF full version. Additional info + preview on request
Description in Russian:
Методика определения характеристик зависящего от времени пробоя сверхтонких подзатворных диэлектриков. Оригинальный стандарт JEDEC JESD92-2003 в PDF полная версия. Дополнительная инфо + превью по запросу
Document status:
Replaced by JEDEC JESD263-2024
Format:
Electronic (PDF)
Page count:
32
Delivery time (for English version):
1 business day
Delivery time (for Russian version):
3 business days
SKU:
Stjedec000542
More technical details are being prepared for this document.