JIS C 2162-2010 PDF
Name in English:
St JIS C 2162-2010
Name in Russian:
Ст JIS C 2162-2010
Description in English:
Test method of long-term reliability of gate insulator for SiC devices at high temperature Original standard JIS C 2162-2010 in PDF full version. Additional info + preview on request
Description in Russian:
Метод испытания долговременной надежности подзатворного диэлектрика приборов на основе карбида кремния (SiC) при высокой температуре Оригинальный стандарт JIS C 2162-2010 в PDF полная версия. Дополнительная инфо + превью по запросу
Document status:
Active
Format:
Electronic (PDF)
Page count:
14
Delivery time (for English version):
1 business day
Delivery time (for Russian version):
2 business days
SKU:
stjis001590
More technical details are being prepared for this document.